２．支 援 内 容

(1) 電子顕微鏡試料作製支援

超高圧電子顕微鏡の特長である「その場観察」（温度、応力、電流等の外的ストレスの印加状態における試料構造変化の観察）に適した試料、生体試料では厚い細胞組織の内部まで鮮明に観察できる染色法など、超高圧電子顕微鏡用試料特有の作製法を支援する。

(2) 電子顕微鏡観察支援

超高圧電子顕微鏡による「その場観察法」を中心とした観察法、局所的な結晶構造を解析する電子回折法、および、生体立体超構造解析のためのトモグラフィーデータ集積法などの像観察を支援する。

(3) 電子顕微鏡画像解析支援

超高圧電子顕微鏡で撮えた厚い試料の投影像から、その３次元構造を視覚に表示するための画像処理を中心とした色々な画像解析を支援する。おもに、生体試料に適用する。また、公表可能な電顕像については、データベースを構築しインターネット上で公開する。

(4) 電子顕微鏡像評価支援

材料系試料から得られた超高圧電子顕微鏡像および電子回折図形について、結晶学的構造および欠陥構造を明らかにし、材料科学の見地から試料構造に対する評価与えて支援する。