＜論文＞
1. Jun Yamasaki, Shigeyuki Morishita, Yuki Shimaoka, Keisuke Ohta, and Hirokazu Sasaki,
"Phase imaging and atomic-resolution imaging by electron diffractive imaging",
Japanese Journal of Applied Physics, 58 (2019) 120502_1-14.(招待論文)
2. Jun Yamasaki, Yuya Ubata, and Hidehiro Yasuda,
"Empirical determination of transmission attenuation curves in mass-thickness contrast TEM imaging",
Ultramicroscopy, 200 (2019) 20-27.
3. T. Mitsudome, S. Fujita, M. Sheng, J. Yamasaki, K. Kobayashi, T. Yoshida, Z. Maeno, T. Mizugaki, K. Jitsukawa, and K. Kaneda,
"Air-Stable and Reusable Cobalt Ion-doped Titanium Oxide Catalyst for Alkene Hydrosilylation",
Green Chemistry, 21 (2019) 4566 - 4570.
＜著書・解説等＞
1. 山﨑 順
「厚さ増加に伴うTEM像強度減衰とトモグラフィーへの影響」
顕微鏡 vol.54, No.3 (2019) 149-152
2. K. Gohara, H. Shiroya, and J. Yamasaki,
"Diffractive Imaging" ,
chapter 4.1 in "3D local structure and functionality design of materials",
World Scientific Publishing and Maruzen Publishing(2019). ISBN:978-981-3273-66-5
3. 山﨑 順
「超高圧電子顕微鏡を用いた電子線透過率の精密解析」
大阪大学超高圧電子顕微鏡センター年報、vol. 47, p.40-45.
4. 佐々木宏和、西久保英郎、西田真輔、山崎悟志、中崎竜介、磯松岳己、湊龍一郎、衣川耕平、今村明博、大友晋哉、堀祐臣、廣瀬清慈、穴田智史、山本和生、平山司、山﨑順、柴田直哉、大場洋次郎、大沼正人
「新材料・新製品開発のための先端解析技術」
古河電工時報138号2-12頁
5. H. Sasaki, H. Nishikubo, S. Nishida, S. Yamazaki, R. Nakasaki, T. Isomatsu, R. Minato, K. Kinugawa, A. Imamura, S. Otomo, Y. Hori, K. Hirose, S. Anada, K. Yamamoto, T. Hirayama, J. Yamasaki, N. Shibata, Y. Oba, and M. Ohnuma,
"Advanced Analysis Technology for New Material and Product Development",
Furukawa Electric Review, No.50, pp.2-11.
＜国際会議発表＞
招待講演
1. Jun Yamasaki,
"Advances in Diffractive Imaging by Electron Beams",
International Workshop of Ultra High-Resokution on Microscopy 2019,
February 22-23, 2019,日立基礎研究センタ, 埼玉県
一般講演
1. Jun Yamasaki, Yuki Shimaoka, and Hirokazu Sasaki,
"Improved Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging",
Materials Research Meeting 2019 (MRM2019), 10-14 December 2019, Yokohama Symposia.
2. J. Yamasaki, M. Kano, K. Saitoh, K. Yoshida, K. Kobayashi, and N. Tanaka,
“Analyzing 3D Distributions of Au/Pt Nanoparticles by Focal Series of Aberration-Corrected TEM Images”, International Conference on Materials and Systems for Sustainability 2019 (ICMaSS2019), 1-3 November 2019, Nagoya University.
3. Jun Yamasaki, Yuya Ubata, and Hidehiro Yasuda,
"Precise Measurements of Transmission Attenuation in Mass-Thickness Contrast TEM Images"
Microscopy and Microanalysis 2019 Meeting,
August 5-8 2019, Portland, Oregon, USA.
4. Jun Yamasaki, Yuya Ubata, and Hidehiro Yasuda,
"Precise analysis of intensity attenuation with increasing thickness in TEM images",
the 6th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC6),
June 14-15, 2019, WINC Aichi, Nagoya.
5. Jun Yamasaki, Masaki Kano, Koh Saitoh, Kenta Yoshida, Keita Kobayashi, and Nobuo Tanaka,
"Analysing 3D distribution of nanoparticles by aberration-corrected TEM focal series" ,
The Fifth Conference on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy (PICO2019),
May 6-10 2019, Kasteel Vaalsbroek, the Netherlands.
＜国内学会・研究会発表＞
一般講演
1. 山﨑 順、鹿野 正起、齋藤 晃、吉田 健太、小林 慶太
「収差補正TEMのスルーフォーカスシリーズに基づく金属ナノ粒子三次元分布計測法の開発」
応用物理学会 第80回秋季学術講演会
2019年9月18日-9月21日、北海道大学札幌キャンパス
2. 照屋 海登、山崎 順、加藤 丈晴、藤田 直弘、馬場 則男
「TVノルム最小化を用いた密度定量トモグラフィにおけるノイズ問題解決法」
日本物理学会 2019年秋季大会 物性
2019年9月10日、岐阜大学柳戸キャンパス
3. 山崎 順
「 MV超高圧電子顕微鏡の特徴と電子線トモグラフィーの進展」
大阪大学ナノテクノロジー設備共用拠点 微細構造解析プラットフォーム 2019年度 第１回地域セミナー
2019年7月9日、千里ライフサイエンスセンター
4. 西 竜治
「 MV超高圧電子顕微鏡の特徴と電子線トモグラフィー」
大阪大学ナノテクノロジー設備共用拠点 微細構造解析プラットフォーム 2019年度 第１回地域セミナー
2019年7月9日、千里ライフサイエンスセンター
5. 山﨑 順、宇畑雄哉、保田英洋
「TEM像強度減衰曲線の精密解析と多重散乱に基づく解釈」
日本顕微鏡学会 第75回学術講演会、2019年6月17-19日、名古屋国際会議場
6. 西 竜治、ホック シャヘドゥル、伊藤 博之、鷹岡 昭夫
「低加速SEMに向けた対称線電流補正器の色収差補正への拡張」
日本顕微鏡学会 第75回学術講演会、2019年6月17-19日、名古屋国際会議場
7. 照屋 海登、山崎 順、加藤 丈晴、藤田 直弘、馬場 則男
「電子線トモグラフィーの非線形透過率補正におけるノイズ問題の解決法」
日本顕微鏡学会 第75回学術講演会、2019年6月17-19日、名古屋国際会議場
8. 山﨑 順, 宇畑雄哉, 保田 英洋
「物質膜厚増加に伴うTEM像強度減衰曲線の精密解析」
日本物理学会 第74回年次大会, 2019年3月21日-3月24日,九州大学伊都キャンパス
9. 鹿野 正起，山﨑 順，齋藤 晃, 吉田 健太, 小林 慶太
「収差補正TEMの深さ分解能を利用した金属ナノ粒子三次元分布計測法の開発」
日本物理学会 第74回年次大会, 2019年3月21日-3月24日,九州大学伊都キャンパス
<受賞>
日本顕微鏡学会 第75回学術講演会 優秀ポスター賞受賞、2019年6月17-19日、名古屋国際会議場
畑中 修平、山﨑 順、保田 英洋
「2光子過程による光電子を用いた時間分解電子顕微鏡の開発」
※クリックで賞状を表示
1. Jun Yamasaki, Shigeyuki Morishita, Yuki Shimaoka, Keisuke Ohta, and Hirokazu Sasaki,
"Phase imaging and atomic-resolution imaging by electron diffractive imaging",
Japanese Journal of Applied Physics, 58 (2019) 120502_1-14.(招待論文)
2. Jun Yamasaki, Yuya Ubata, and Hidehiro Yasuda,
"Empirical determination of transmission attenuation curves in mass-thickness contrast TEM imaging",
Ultramicroscopy, 200 (2019) 20-27.
3. T. Mitsudome, S. Fujita, M. Sheng, J. Yamasaki, K. Kobayashi, T. Yoshida, Z. Maeno, T. Mizugaki, K. Jitsukawa, and K. Kaneda,
"Air-Stable and Reusable Cobalt Ion-doped Titanium Oxide Catalyst for Alkene Hydrosilylation",
Green Chemistry, 21 (2019) 4566 - 4570.
＜著書・解説等＞
1. 山﨑 順
「厚さ増加に伴うTEM像強度減衰とトモグラフィーへの影響」
顕微鏡 vol.54, No.3 (2019) 149-152
2. K. Gohara, H. Shiroya, and J. Yamasaki,
"Diffractive Imaging" ,
chapter 4.1 in "3D local structure and functionality design of materials",
World Scientific Publishing and Maruzen Publishing(2019). ISBN:978-981-3273-66-5
3. 山﨑 順
「超高圧電子顕微鏡を用いた電子線透過率の精密解析」
大阪大学超高圧電子顕微鏡センター年報、vol. 47, p.40-45.
4. 佐々木宏和、西久保英郎、西田真輔、山崎悟志、中崎竜介、磯松岳己、湊龍一郎、衣川耕平、今村明博、大友晋哉、堀祐臣、廣瀬清慈、穴田智史、山本和生、平山司、山﨑順、柴田直哉、大場洋次郎、大沼正人
「新材料・新製品開発のための先端解析技術」
古河電工時報138号2-12頁
5. H. Sasaki, H. Nishikubo, S. Nishida, S. Yamazaki, R. Nakasaki, T. Isomatsu, R. Minato, K. Kinugawa, A. Imamura, S. Otomo, Y. Hori, K. Hirose, S. Anada, K. Yamamoto, T. Hirayama, J. Yamasaki, N. Shibata, Y. Oba, and M. Ohnuma,
"Advanced Analysis Technology for New Material and Product Development",
Furukawa Electric Review, No.50, pp.2-11.
＜国際会議発表＞
招待講演
1. Jun Yamasaki,
"Advances in Diffractive Imaging by Electron Beams",
International Workshop of Ultra High-Resokution on Microscopy 2019,
February 22-23, 2019,日立基礎研究センタ, 埼玉県
一般講演
1. Jun Yamasaki, Yuki Shimaoka, and Hirokazu Sasaki,
"Improved Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging",
Materials Research Meeting 2019 (MRM2019), 10-14 December 2019, Yokohama Symposia.
2. J. Yamasaki, M. Kano, K. Saitoh, K. Yoshida, K. Kobayashi, and N. Tanaka,
“Analyzing 3D Distributions of Au/Pt Nanoparticles by Focal Series of Aberration-Corrected TEM Images”, International Conference on Materials and Systems for Sustainability 2019 (ICMaSS2019), 1-3 November 2019, Nagoya University.
3. Jun Yamasaki, Yuya Ubata, and Hidehiro Yasuda,
"Precise Measurements of Transmission Attenuation in Mass-Thickness Contrast TEM Images"
Microscopy and Microanalysis 2019 Meeting,
August 5-8 2019, Portland, Oregon, USA.
4. Jun Yamasaki, Yuya Ubata, and Hidehiro Yasuda,
"Precise analysis of intensity attenuation with increasing thickness in TEM images",
the 6th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical Calculations (AMTC6),
June 14-15, 2019, WINC Aichi, Nagoya.
5. Jun Yamasaki, Masaki Kano, Koh Saitoh, Kenta Yoshida, Keita Kobayashi, and Nobuo Tanaka,
"Analysing 3D distribution of nanoparticles by aberration-corrected TEM focal series" ,
The Fifth Conference on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy (PICO2019),
May 6-10 2019, Kasteel Vaalsbroek, the Netherlands.
＜国内学会・研究会発表＞
一般講演
1. 山﨑 順、鹿野 正起、齋藤 晃、吉田 健太、小林 慶太
「収差補正TEMのスルーフォーカスシリーズに基づく金属ナノ粒子三次元分布計測法の開発」
応用物理学会 第80回秋季学術講演会
2019年9月18日-9月21日、北海道大学札幌キャンパス
2. 照屋 海登、山崎 順、加藤 丈晴、藤田 直弘、馬場 則男
「TVノルム最小化を用いた密度定量トモグラフィにおけるノイズ問題解決法」
日本物理学会 2019年秋季大会 物性
2019年9月10日、岐阜大学柳戸キャンパス
3. 山崎 順
「 MV超高圧電子顕微鏡の特徴と電子線トモグラフィーの進展」
大阪大学ナノテクノロジー設備共用拠点 微細構造解析プラットフォーム 2019年度 第１回地域セミナー
2019年7月9日、千里ライフサイエンスセンター
4. 西 竜治
「 MV超高圧電子顕微鏡の特徴と電子線トモグラフィー」
大阪大学ナノテクノロジー設備共用拠点 微細構造解析プラットフォーム 2019年度 第１回地域セミナー
2019年7月9日、千里ライフサイエンスセンター
5. 山﨑 順、宇畑雄哉、保田英洋
「TEM像強度減衰曲線の精密解析と多重散乱に基づく解釈」
日本顕微鏡学会 第75回学術講演会、2019年6月17-19日、名古屋国際会議場
6. 西 竜治、ホック シャヘドゥル、伊藤 博之、鷹岡 昭夫
「低加速SEMに向けた対称線電流補正器の色収差補正への拡張」
日本顕微鏡学会 第75回学術講演会、2019年6月17-19日、名古屋国際会議場
7. 照屋 海登、山崎 順、加藤 丈晴、藤田 直弘、馬場 則男
「電子線トモグラフィーの非線形透過率補正におけるノイズ問題の解決法」
日本顕微鏡学会 第75回学術講演会、2019年6月17-19日、名古屋国際会議場
8. 山﨑 順, 宇畑雄哉, 保田 英洋
「物質膜厚増加に伴うTEM像強度減衰曲線の精密解析」
日本物理学会 第74回年次大会, 2019年3月21日-3月24日,九州大学伊都キャンパス
9. 鹿野 正起，山﨑 順，齋藤 晃, 吉田 健太, 小林 慶太
「収差補正TEMの深さ分解能を利用した金属ナノ粒子三次元分布計測法の開発」
日本物理学会 第74回年次大会, 2019年3月21日-3月24日,九州大学伊都キャンパス
<受賞>
日本顕微鏡学会 第75回学術講演会 優秀ポスター賞受賞、2019年6月17-19日、名古屋国際会議場
畑中 修平、山﨑 順、保田 英洋
「2光子過程による光電子を用いた時間分解電子顕微鏡の開発」
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