＜論文＞
1. Shuhei Hatanaka,Jun Yamasaki
"Precise measurement of spatial coherence and axial brightness based on the Wigner function reconstruction in transmission electron microscopes with field emission guns and a thermionic emission gun"
Microscopy 74 (2025) 20-27
https://doi.org/10.1093/jmicro/dfae040
2. Jun Yamasaki, Tomohito Ishii, Kaito Teruya, Yuya Ubata, Hiroya Miyazaki, Keita Kobayashi, Takeharu Kato
"A practical method for performing full-tilt-angle electron tomography of submicron-sized particles"
Micron 198 (2025) 103874
https://doi.org/10.1016/j.micron.2025.103874
<著書・解説等>
＜国際会議発表＞
招待講演
一般講演
1.Jun Yamasaki and Shuhei Hatanaka
"Precise Measurements of Spatial Coherence of Electron Beams and Axial Brightness of Electron Emitters"
Microscopy & Microanalysis, July 27-July 31, 2025, Salt Lake City.
2.Jun Yamasaki and Shuhei Hatanaka
"Precise Measurements of Axial Brightness of Emitters in Electron microscopes"
International Conference on Materials and Systems for Sustainability 2025 (ICMaSS 2025),December 12-14, 2025, Nagoya University, Aichi, Japan
3.Ryoya Tsuchida, Hiroshi Nakajima, and Jun Yamasaki
"Robust visualization of dislocations using 4D-STEM"
International Conference on Materials and Systems for Sustainability 2025 (ICMaSS 2025),December 12-14, 2025, Nagoya University, Aichi, Japan
＜国内学会・研究会発表＞
招待講演
1.山﨑 順
「超高圧電顕による厚膜観察能の探求と三次元観察」
日本顕微鏡学会関西支部 第１回支部講演会
2025年4月18日 千里ライフサイエンスセンター 大阪府
2.山﨑 順
「透過電子顕微鏡におけるビームコヒーレンスおよびエミッター輝度の精密測定」
日本表面真空学会マイクロビームアナリシス(MBA)技術部会 第21回研究会
2025年8月21‐22日 東京大学
3.山﨑 順
「透過電子顕微鏡エミッターの軸上輝度測定」
次世代真空エレクトロニクス技術部会(FVE 部会) 第 4 回定例研究会
2025年11月18日 三多摩労働会館およびオンライン 東京都
一般講演
1.山﨑 順, 畑中 修平
「電子源軸上輝度の精密測定法の開発」
日本顕微鏡学会 第81回学術講演会
2025年6月9-11日 福岡国際会議場
2.山﨑 順, 畑中 修平
「電子波のWigner関数再構成と電子源軸上輝度測定」
日本顕微鏡学会 第81回学術講演会
2025年6月9-11日 福岡国際会議場
3.中島 宏, 山田 雄太, 畑中 修平, 佐藤 和久, 山﨑 順
「GeTeのレーザー照射誘起結晶化過程のその場観察」
日本顕微鏡学会 第81回学術講演会
2025年6月9-11日 福岡国際会議場
4.川元 洸平, 山﨑 順
「局所電子回折図形解析による3次元結晶格子歪み計測」
マイクロビームアナリシス(MBA)技術部会 第21回研究会
2025年8月21-22日 東京大学
5.カン カンワク, 佐藤 和久, 山﨑 順
「物質膜厚と透過型電子顕微鏡像分解能の相関解析」
日本表面真空学会マイクロビームアナリシス(MBA)技術部会 第21回研究会
2025年8月21‐22日 東京大学
6.土田 諒也, 中島 宏, 山﨑 順
「4D-STEM による転位可視化手法の開発」
日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム
2025年11月13-14日 名古屋大学
7.カン カンワク, 佐藤 和久, 山﨑 順
「転位像解析に基づく透過電子顕微鏡像のボケに関する定量的研究」
日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム
2025年11月13-14日 名古屋大学
<受賞>
1. 令和6年度 菅田-Cohen賞（修士)（工学研究科電気電子情報通信工学専攻・優秀学生賞）
水野伸哉
2025年3月25日
※クリックで賞状を表示
http://www.eei.eng.osaka-u.ac.jp/sugata/recipients.html
1. Shuhei Hatanaka,Jun Yamasaki
"Precise measurement of spatial coherence and axial brightness based on the Wigner function reconstruction in transmission electron microscopes with field emission guns and a thermionic emission gun"
Microscopy 74 (2025) 20-27
https://doi.org/10.1093/jmicro/dfae040
2. Jun Yamasaki, Tomohito Ishii, Kaito Teruya, Yuya Ubata, Hiroya Miyazaki, Keita Kobayashi, Takeharu Kato
"A practical method for performing full-tilt-angle electron tomography of submicron-sized particles"
Micron 198 (2025) 103874
https://doi.org/10.1016/j.micron.2025.103874
<著書・解説等>
＜国際会議発表＞
招待講演
一般講演
1.Jun Yamasaki and Shuhei Hatanaka
"Precise Measurements of Spatial Coherence of Electron Beams and Axial Brightness of Electron Emitters"
Microscopy & Microanalysis, July 27-July 31, 2025, Salt Lake City.
2.Jun Yamasaki and Shuhei Hatanaka
"Precise Measurements of Axial Brightness of Emitters in Electron microscopes"
International Conference on Materials and Systems for Sustainability 2025 (ICMaSS 2025),December 12-14, 2025, Nagoya University, Aichi, Japan
3.Ryoya Tsuchida, Hiroshi Nakajima, and Jun Yamasaki
"Robust visualization of dislocations using 4D-STEM"
International Conference on Materials and Systems for Sustainability 2025 (ICMaSS 2025),December 12-14, 2025, Nagoya University, Aichi, Japan
＜国内学会・研究会発表＞
招待講演
1.山﨑 順
「超高圧電顕による厚膜観察能の探求と三次元観察」
日本顕微鏡学会関西支部 第１回支部講演会
2025年4月18日 千里ライフサイエンスセンター 大阪府
2.山﨑 順
「透過電子顕微鏡におけるビームコヒーレンスおよびエミッター輝度の精密測定」
日本表面真空学会マイクロビームアナリシス(MBA)技術部会 第21回研究会
2025年8月21‐22日 東京大学
3.山﨑 順
「透過電子顕微鏡エミッターの軸上輝度測定」
次世代真空エレクトロニクス技術部会(FVE 部会) 第 4 回定例研究会
2025年11月18日 三多摩労働会館およびオンライン 東京都
一般講演
1.山﨑 順, 畑中 修平
「電子源軸上輝度の精密測定法の開発」
日本顕微鏡学会 第81回学術講演会
2025年6月9-11日 福岡国際会議場
2.山﨑 順, 畑中 修平
「電子波のWigner関数再構成と電子源軸上輝度測定」
日本顕微鏡学会 第81回学術講演会
2025年6月9-11日 福岡国際会議場
3.中島 宏, 山田 雄太, 畑中 修平, 佐藤 和久, 山﨑 順
「GeTeのレーザー照射誘起結晶化過程のその場観察」
日本顕微鏡学会 第81回学術講演会
2025年6月9-11日 福岡国際会議場
4.川元 洸平, 山﨑 順
「局所電子回折図形解析による3次元結晶格子歪み計測」
マイクロビームアナリシス(MBA)技術部会 第21回研究会
2025年8月21-22日 東京大学
5.カン カンワク, 佐藤 和久, 山﨑 順
「物質膜厚と透過型電子顕微鏡像分解能の相関解析」
日本表面真空学会マイクロビームアナリシス(MBA)技術部会 第21回研究会
2025年8月21‐22日 東京大学
6.土田 諒也, 中島 宏, 山﨑 順
「4D-STEM による転位可視化手法の開発」
日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム
2025年11月13-14日 名古屋大学
7.カン カンワク, 佐藤 和久, 山﨑 順
「転位像解析に基づく透過電子顕微鏡像のボケに関する定量的研究」
日本顕微鏡学会 第68回シンポジウム
2025年11月13-14日 名古屋大学
<受賞>
1. 令和6年度 菅田-Cohen賞（修士)（工学研究科電気電子情報通信工学専攻・優秀学生賞）
水野伸哉
2025年3月25日
※クリックで賞状を表示
http://www.eei.eng.osaka-u.ac.jp/sugata/recipients.html