＜論文＞
1. J. Yamasaki, M. Mori, A. Hirata, Y. Hirotsu, and N. Tanaka, “Depth-resolution
imaging of crystalline nanoclusters attached on and embedded in amorphous
films using aberration-corrected TEM”, Ultramicroscopy, 151 (2015) 224-231.
＜著書・解説等＞
1. 山﨑 順、「収差補正TEMにおける深さ分解能結像」、大阪大学超高圧電子顕微鏡センター平成26年度 年報p.40-45.
＜国際会議発表＞
基調講演
1. Jun Yamasaki, “Reconstruction of Atomic Structures and Electric Fields
of Nano Materials Using Electron Diffractive Imaging” ,
International Conference on Electron Microscopy and XXXVI Annual Meeting
of the Electron Microscope Society of India (EMSI-2015),
8-10 July 2015, Mumbai, India.
一般講演
1. Jun Yamasaki, Masayuki Mori, Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, Kaori
Hirahara, and Nobuo Tanaka, "Depth-resolution Imaging of Crystalline
Nano Clusters on/in Amorphous Films Using Aberration-corrected TEM",
Third Conference on Frontiers of Aberration Corrected Electron Microscopy
(PICO2015), 19-23 Apr. 2015, Kasteel Vaalsbroek, the Netherlands.
2. Jun Yamasaki, Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, Kaori Hirahara and
Nobuo Tanaka," Depth-Resolution Imaging of Crystalline Nano Clusters
on/in Amorphous Films Using Aberration-Corrected TEM", Microscopy
and Microanalysis 2015 Meeting (M&M2015), 2-6 Aug. 2015, Portland,
USA.
3. Jun Yamasaki, Michihiro Mutoh, Shigemasa Ohta, Shuichi Yuasa, Shigeo
Arai, Katsuhiro Sasaki and Nobuo Tanaka," Influence of Nonlinear Intensity
Attenuation in Bright-Field TEM Images on Tomographic Reconstructions of
Micron-Scaled Materials", Microscopy and Microanalysis 2015 Meeting
(M&M2015), 2-6 Aug. 2015, Portland, USA.
4. Jun Yamasaki, Akihiko Hirata, Yoshihiko Hirotsu, Kaori Hirahara and
Nobuo Tanaka,"Depth-Resolution Imaging of Crystalline Nano Clusters
Using Aberration-Corrected TEM", The 2nd East-Asia Microscopy Conference(EAMC2),
24-27 Nov. 2015, Himeji.
＜国内学会・研究会発表＞
招待講演・指定講演
1. 山﨑 順「収差補正TEMによる深さ分解能結像」 日本顕微鏡学会 超高分解能顕微法分科会 2014年度研究会、2015年2月20日、三浦市
マホロバ・マインズ三浦.
2. 山﨑 順「超高圧電子顕微鏡を用いた電子線透過能の研究とトモグラフィー観察への応用」日本学術振興会 荷電粒子ビームの工業への応用第132委員会 第217回研究会2015年10月2日東京理科大学
森戸記念館
一般講演
1. 山﨑 順，荒井 重勇，田中 信夫，保田 英洋，森 博太郎「超高圧電顕におけるTEM像強度減衰の解析と3D密度トモグラフィーへの応用」 日本顕微鏡学会
第71回学術講演会、2015年5月13-15日、京都国際会館
2. 山﨑 順，平田 秋彦，弘津 禎彦，平原 佳織，田中信夫 「収差補正TEMによる結晶性ナノクラスターの深さ分解能結像」日本顕微鏡学会 第71回学術講演会、2015年5月13-15日、京都国際会館.
3. 島岡 勇記, 山﨑 順「Airyディスクを用いた電子線空間干渉性の計測と回折顕微法」日本顕微鏡学会 第71回学術講演会、2015年5月13-15日、京都国際会館.
4. 藤井 波輝, 西 竜治「超高圧電子顕微鏡トモグラフィー自動撮影におけるステージ制御を併用した位置補正」日本顕微鏡学会 第71回学術講演会、2015年5月13-15日、京都国際会館.
5. 島岡 勇記, 山﨑 順「Airyディスクを用いた電子線空間干渉性の計測と回折顕微法」文科省科研費新学術領域研究「3D活性サイト科学」 春の学校、2015年5月30-31日、奈良春日野国際フォーラム 甍〜I・RA・KA〜
6. 山﨑 順, 石田 篤志, 秋山 賢輔, 平林 康男「透過電子顕微鏡を用いたSi(001)上の3C-SiC膜形成及び積層欠陥生成過程の研究」
日本物理学会 2015年秋季大会、2015年9月16-19日、関西大学千里山キャンパス
7. 島岡 勇記, 山﨑 順「電子線小角散乱を用いた回折位相イメージングの高精度化」 日本物理学会 2015年秋季大会、2015年9月16-19日、関西大学千里山キャンパス
8. 山﨑 順、稲元 伸、玉置央和、野村優貴、石田篤志、秋山賢輔、平林康男「収差補正電子顕微鏡を用いた Si(001)基板上エピタキシャル3C-SiC膜の形成過程と積層欠陥生成過程の研究」、応用物理学会
先進パワー半導体分科会 第2回講演会、2015年11月9-10日、大阪国際交流センター
＜受賞＞
山﨑 順、大阪大学総長奨励賞2015 研究部門、平成27年7月14日