＜論文＞
1. J. Yamasaki, M. Mutoh, S. Ohta, S. Yuasa, S. Arai, K. Sasaki and N.
Tanaka, “Analysis of nonlinear intensity attenuation in bright-field TEM
images for correct 3D reconstruction of the density in micron-sized materials”,
Microscopy, 63 (2014) 345-355. Selected for “Editor’s Choice” and Cover
Page
＜著書・解説等＞
1. 山﨑 順, 「収差補正TEM像における高さ分解能と三次元ナノ構造情報の検出」, 顕微鏡, 49(3) (2014) 216-221.
＜国際会議発表＞
招待講演
1. Jun Yamasaki, “Electron Diffractive Imaging of Crystalline Structures
and Electric Fields of Nano Materials”, The 15th International Union of
Materials Research Society – International Conference in Asia (IUMRS-ICA),
24-30 August, 2014, Fukuoka University.
2. Jun Yamasaki, “Electron Diffractive Imaging of Crystalline Structures
and Electric Fields in/around Nano Materials “, the 18th SANKEN International
Symposium, 10-11 December, 2014, Knowledge Capital Congres Convention Center,
Osaka
一般講演
1. J. Yamasaki, M. Mutoh, S. Ohta, S. Yuasa, S. Arai, K. Sasaki, and N.
Tanaka, "Influence of Nonlinear Intensity Attenuation in Bright-Field
TEM Images on Tomographic Reconstructions of Micron-Scaled Materials",
The 4th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical
Calculations (AMTC4), 8-10 May 2014, Hamamatsu, Japan.
2. Jun Yamasaki, “Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging”, Holo
Workshop, 10-12 June 2014, Dresden, Germany.
3. Jun Yamasaki, Shin Inamoto, Yuki Nomura, Hirokazu Tamaki, Atsushi Ishida,
Kensuke Akiyama, Yasuo Hirabayashi, and Nobuo Tanaka, “Atomistic Structure
Analysis of 3C-SiC/Si(001) Interface and Stacking Faults by Aberration-Corrected
Transmission Electron Microscopy”, The 15th International Union of Materials
Research Society – International Conference in Asia (IUMRS-ICA), 24-30
August, 2014, Fukuoka University, Japan.
4. Nishi R., Ito H., and Hoque S., "Wire corrector for aberration
corrected electron optics ",18th International Microscopy Congress
(IMC2014), Praque, 2014, 7-12 Sep., Czech Republic,
5. Nishi R., Kanaji A., Yoshida K., Kajimura N., Nishida T., and Isakozawa
S., "Autofocus method with high-definition TV camera for ultrahigh
voltage electron microscope tomography ",18th International Microscopy
Congress (IMC2014), Praque, 2014, 7-12 Sep., Czech Republic,
6. Midoh Y., Nishi R., Shirazi M. N., Kamakura Y., Inoue Y., Miura J.,and
Nakamae K., "HawkC: computer-aided 3D visualization and analysis software
for electron tomography ",18th International Microscopy Congress (IMC2014),
Praque, 2014, 7-12 Sep., Czech Republic,
7. Yoshida K., Nishi R., and Yasuda H., "A Remote Control/Observation
System and an Operation Support System for the Ultrahigh Voltage Electron
Tomography ",18th International Microscopy Congress (IMC2014), Praque,
2014, 7-12 Sep., Czech Republic,
8. Jun Yamasaki, Michihiro Mutoh, Shigemasa Ohta, Shuich Yuasa, Shigeo
Arai, Katsuhiro Sasaki, and Nobuo Tanaka, “Nonlinear intensity attenuation
in bright-field TEM images and its influence on tomographic reconstruction
of micron-sized materials”, 18th International Microscopy Congress (IMC
2014) 7-12 September 2014, Prague, Czech.
9. J. Yamasaki, K. Ohta, H. Sasaki, and N. Tanaka, “Observation of electric
field using electron diffractive imaging” , 18th International Microscopy
Congress (IMC 2014) 7-12 September 2014, Prague, Czech.
10. J. Yamasaki, M. Mutoh, S. Ohta, S. Yuasa, S. Arai, K. Sasaki, and N.
Tanaka, “Analysis of the nonlinearity between mass-thickness and bright-field
TEM intensity for quantitative tomography of micron-sized materials”, Opening
International Symposium, JSM Next-generation Microscopic Science, 3-4 November
2014, Awaji Island, Japan.
＜国内学会・研究会発表＞
招待講演・指定講演
1. 山﨑 順 「TEM像強度非線形減衰の解析と三次元密度の再構成」、日本顕微鏡学会 平成25年度「マルチスケールトモグラフィー研究部会」講演会、2014年3月22日、工学院大学.
2. 山﨑 順、森 雅幸、平田秋彦、弘津禎彦、田中信夫 「制限視野ナノ電子回折を用いたアモルファスMRO構造のサイズ計測法の開発」、日本顕微鏡学会
第70回学術講演会、2014年5月11-13日、幕張メッセ.
3. 山﨑 順、武藤道洋、大田繁正、荒井重勇、田中信夫 「TEMトモグラフィーによる正しい内部強度再構成のための透過率条件」、日本顕微鏡学会
第70回学術講演会、2014年5月11-13日、幕張メッセ.
4. 山﨑 順 「電子線の空間コヒーレンス測定と電子線回折イメージング」日本放射光学会第６回若手研究会「コヒーレントＸ線が拓く構造可視化の新しい世界」、2014年8月21,22日、理研播磨SPring-8.
5. 山﨑 順 「非結晶性物質のTEMトモグラフィーにおける密度分布3D再構成の条件」 生理研研究会「次世代の生物電顕を考える」、2014年11月12,13日、岡崎コンファレンスセンター.
6. 山﨑 順 「TEMトモグラフィー」 日本顕微鏡学会第58回シンポジウム、2014年11月16,17日、九州大学.
7. 西竜治 、 Hoque Shahedul 、鷹岡昭夫 、伊藤博之, "巻線補正器の基本特性と球面収差補正への応用 ",荷電粒子ビームの工業への応用第132委員会
第213回研究会 (2014年12月12日)東京理科大学 森戸記念会館
8. 山﨑 順「超高圧電顕を用いたミクロンサイズ材料の密度定量３次元トモグラフィー」 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター 材料系共同利用研究報告会、2014年12月16日、大阪大学.
一般講演
1. 山﨑 順、森 雅幸、 平田秋彦、 弘津禎彦、 田中信夫 「制限視野ナノ電子回折を用いたアモルファスMRO構造のサイズ計測」 日本物理学会 第69回年次大会、2014年3月27-30日、東海大学湘南キャンパス.
2. 西 竜治，Hoque Shahedul，阿南 拓也，鷹岡 昭夫，伊藤 博之, "収差補正電子光学系のための巻線補正器の提案 ",日本顕微鏡学会第70回学術講演会,
幕張メッセ国際会議場, (2014)、5/11(日)～13（火）
3. 金治 敦子，森山 宣孝，四方 宏紀，吉田 清和，梶村 直子，西田 倫希，砂子沢 成人，西 竜治, "超高圧電子顕微鏡トモグラフィー自動撮影用ビデオカメラを用いた高速オートフォーカス
",日本顕微鏡学会第70回学術講演会, 幕張メッセ国際会議場, (2014)、5/11(日)～13（火）
4. 工藤 修一，橋本 愛，西 竜治，御堂 義博，服部 信美，小山 徹，中前 幸治,超高圧電子顕微鏡を用いた半導体デバイス構造解析日本顕微鏡学会第70回学術講演会,
幕張メッセ国際会議場, (2014)、5/11(日)～13（火）
5. 四方 宏紀，金治 敦子，森山 宣孝，吉田 清和，梶村 直子，西田 倫希，砂子沢 成人，西 竜治, "超高圧電子顕微鏡トモグラフィーのための動的オートフォーカス法の開発
",日本顕微鏡学会第70回学術講演会, 幕張メッセ国際会議場, (2014)、5/11(日)～13（火）
6. 三浦正視、山﨑 順、Peter Krogstrup、Erik Johnson、田中信夫
「GaAs/InAsヘテロ接合ナノワイヤー界面での構造と組成の遷移」
日本顕微鏡学会 第70回学術講演会、2014年5月11日～13日、幕張メッセ国際会議場
7. 田中秀、吉田浩之、桒原隆亮、西竜治、尾﨑雅則, "光重合性ブルー相液晶の透過電子顕微鏡観察 ",液晶討論会 2014年9月
8. Ryuji Nishi, Meng Cao, Atsuko Kanaji, Tomoki Nishida, Kiyokazu Yoshida,
and Shigeto Isakozawa, "Fast auto-acquisition tomography tilt series
by using HD video camera in ultra-high voltage electron microscope ",日本顕微鏡学会第58回シンポジウム,
2014年11月16-17日
9. 山﨑 順 「電子回折図形に基づくナノイメージング」 第1回文科省科研費新学術領域研究「3D活性サイト科学」公開ワークショップ、2014年11月21,22日、CIVI研修センター新大阪東.