1. T. Mitsudome, T. Urayama, K. Yamazaki, Y. Maehara, J. Yamasaki, K. Gohara, Z. Maeno, T. Mizugaki, K. Jitsukawa, K. Kaneda,
"Design of Core-Pd/Shell-Ag Nanocomposite Catalyst for Selective Semihydrogenation of Alkynes" ,
ACC Catalysis, 6 (2016) 666-670.
2. S. Hoque, H. Ito, R. Nishi, A. Takaoka, E. Munro,
"Spherical aberration correction with threefold symmetric line currents" ,
Ultramicroscopy, 161 (2016) 74-82.
3. F. Wang, Y. Sun, M. Cao, R. Nishi,
"The infulence of structure depth on image blurring of micrometres-thick specimens in MeV transmission electron imaging" ,
Micron, 83 (2016) 54-61.
＜著書・解説等＞
1.「回折イメージング」 郷原一寿, 塩谷浩之, 山﨑 順
「機能構造科学入門 3D活性サイトと物質デザイン」4章1節、大門寛, 佐々木裕次・監修 (2016) 丸善出版
2.「電子回折位相イメージング法の開発とナノ電場の可視化」 まてりあ Vol.55 No.12 (2016) 595. ,山﨑 順, 島岡勇記,
佐々木宏和
＜国際会議発表＞
一般講演
1. Jun Yamasaki, Yuki Shimaoka, and Hirokazu Sasaki,
"Developing Quantitative Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging",
The 5th International Symposium on Advanced Microscopy and Theoretical
Calculations (AMTC5),
11-13 May 2016, WINC Aichi, Nagoya, Japan
2. Jun Yamasaki, Yuki Shimaoka, and Hirokazu Sasaki,
"Refined Phase Imaging by Electron Diffractive Imaging",
Microscopy and Microanalysis 2016 Meeting (M&M2016), 24-28 July 2016,
Columbus, Ohio, USA
＜国内学会・研究会発表＞
招待講演
1. 山﨑 順
「電子回折図形に基づく位相イメージング法」
日本顕微鏡学会 第59回シンポジウム, 2016年11月18,19日, 帝京平成大学池袋キャンパス
2. 山﨑 順
「超高圧電子顕微鏡での4D計測」
大阪大学微細構造解析プラットフォーム 平成28年度第２回地域セミナー, 2016年12月21日, 千里ライフサイエンスセンター
一般講演
1. 山﨑 順, 石田 篤志, 秋山 賢輔, 平林 康男,
「Si(001)上の3C-SiCエピ膜形成および積層欠陥生成過程の断面TEM解析」,
第63回応用物理学会春季学術講演会, 2016年3月19-22日, 東京工業大学大岡山キャンパス
2.山﨑 順, 宇畑 雄哉, 藤井 波輝, 西 竜治, 保田 英洋, 森 博太郎
「超高圧電子顕微鏡を用いた超高速トモグラフィー」
日本顕微鏡学会 第72回学術講演会,2016年6月14-16日,仙台国際センター
3.山﨑 順, 島岡 勇記, 佐々木 宏和
「電子線回折を用いた定量的位相イメージング法」
日本顕微鏡学会 第72回学術講演会,2016年6月14-16日,仙台国際センター
4.西 竜治, 山名 達也, ホック シャヘドゥル, 伊藤 博之, 鷹岡 昭夫
「微分代数法による回転対称線電流を用いた球面収差補正器の特性解析」
日本顕微鏡学会 第72回学術講演会,2016年6月14-16日,仙台国際センター
5.島岡 勇記, 山﨑 順
「電子線回折位相イメージング法の高精度化」
日本顕微鏡学会 第72回学術講演会,2016年6月14-16日,仙台国際センター
6.藤井 波輝, 西 竜治, 山﨑 順
「トモグラフィー自動撮影におけるオートフォーカス時の画像鮮鋭度変化の解析」
日本顕微鏡学会 第72回学術講演会,2016年6月14-16日,仙台国際センター
7.宇畑 雄哉, 山﨑 順, 桒原 隆亮, 村田 和義, 保田 英洋, 森 博太郎
「電子線透過率補正を用いた密度定量TEMトモグラフィー」
日本顕微鏡学会 第72回学術講演会,2016年6月14-16日,仙台国際センター