＜論文＞
1.Takato Mitsudome, Kazuya Miyagawa, Zen Maeno, Tomoo Mizugaki, Koichiro
Jitsukawa, Jun Yamasaki, Yasutaka Kitagawa, Kiyotomi Kaneda,
"Mild Hydrogenation of Amides to Amines over a Platinum‐Vanadium Bimetallic
Catalyst" ,
Angewandte Chemie, 129 (2017) 9509-9513.
＜著書・解説等＞
1.「結像系収差補正電子顕微鏡（収差補正TEM）を駆使した微細構造解析手法の進展」山﨑 順 触媒 Vol.59 No.2 (2017) 82-88.
一般講演
1.J. Yamasaki, Y. Shimaoka, and H. Sasaki
"Phase Imaging from Electron Diffraction"
International Conference on Materials and Systems for Sustainability (ICMaSS 2017),
September 29 - October 1 2017, Nagoya University
2.Y. Ubata, J. Yamasaki, K. Murata, R. Kuwahara, K. Takahashi, S. Inamoto, H. Yasuda, and H. Mori
"Analysis of non-linear electron transmittance due to multiple scatterings and correction of artificial density in tomography reconstructions"
International Conference on Materials and Systems for Sustainability (ICMaSS 2017),
September 29 - October 1 2017, Nagoya University
＜国内学会・研究会発表＞
指定講演
1.Jun Yamasaki, Koh Saitoh, and Nobuo Tanaka
"Precise measurement of the depth resolution in aberration-corrected
TEM"
日本顕微鏡学会 第73回学術講演会, 2017年5月30日-6月1日,札幌コンベンションセンター
一般講演
1.山﨑 順, 宇畑 雄哉, 保田 英洋, 森 博太郎
「多重散乱によるTEM像強度の非線形減衰の解析」
日本物理学会 第72回年次大会, 2017年3月17-20日, 大阪大学豊中キャンパス
2.宇畑 雄哉, 山﨑 順, 村田 和義, 桒原 隆亮, 高橋 和巳, 稲元 伸, 保田 英洋, 森 博太郎
「電子線トモグラフィーにおける密度アーティファクト解消への取り組み」
日本物理学会 第72回年次大会, 2017年3月17-20日, 大阪大学豊中キャンパス
3.西 竜治，ホック シャヘドゥル，伊藤 博之，鷹岡 昭夫
「N-SYLCモデル球面収差補正器の微分代数法による高次収差解析とパラメータ最適化」
日本顕微鏡学会 第73回学術講演会, 2017年5月30日-6月1日,札幌コンベンションセンター
4.宇畑 雄哉, 山﨑 順, 村田 和義, 桒原 隆亮, 高橋 和巳, 稲元 伸, 保田 英洋, 森 博太郎
「電子線トモグラフィーにおける再構成密度のアーティファクト解消」
日本顕微鏡学会 第73回学術講演会, 2017年5月30日-6月1日,札幌コンベンションセンター
5.山﨑 順，島岡 勇記，中島 宏，小谷 厚博，原田 研，森 茂生，佐々木 宏和
「電子回折位相イメージング法の広視野化」
日本顕微鏡学会 第73回学術講演会, 2017年5月30日-6月1日,札幌コンベンションセンター
6.山﨑 順, 宇畑 雄哉, 保田 英洋, 森 博太郎
「多重散乱に伴うTEM像強度の非線形減衰の解析」
日本顕微鏡学会 第73回学術講演会, 2017年5月30日-6月1日,札幌コンベンションセンター
7.西 竜治,
「微分代数による収差解析法 」
日本顕微鏡学会 第73回学術講演会, 2017年5月30日-6月1日,札幌コンベンションセンター
8.Shahedul Hoqu, Hiroyuki Ito, Ryuji Nishi, and Akio Takaoka
"A Novel N-SYLC Model for Correcting Higher Order Geometrical Aberrations"
日本顕微鏡学会 第73回学術講演会, 2017年5月30日-6月1日,札幌コンベンションセンター
<受賞>
日本顕微鏡学会・論文賞「顕微鏡基礎部門」, 2017年5月31日
Jun Yamasaki, Michihiro Mutoh, Shigemasa Ohta, Syuichi Yuasa, Shigeo Arai,
Katsuhiro Sasaki, and Nobuo Tanaka
"Analysis of nonlinear intensity attenuation in bright-field TEM images
for correct 3D reconstruction of the density in micron-sized materials"
Microscopy,63(2014) 345-355