利用申請
超高圧電子顕微鏡センターのご利用について
当センターの装置のご利用を希望される方は、下記をご参照下さい。
※学生の方からの問い合わせや利用相談には応じておりません。指導教員を通してご連絡下さい。
学内の方
下記の利用申請書と利用内容説明書をダウンロードしてご記入の上、
までe-mailでお送り下さい。提出頂いた申請書類をもとに、後日、利用相談を行います。なお、前年度からの継続課題の場合は、利用申請書のみお送り下さい(新たに利用相談は行いません)。
利用できる設備 掲載した装置のほか、FE-SEM、イオンスライサー、クロスセクションポリッシャー、プラズマクリーナーなどがご利用頂けます。
データ提供 ARIM微細構造解析プラットフォームによるデータ提供にご協力いただける場合には利用負担金のディスカントがあります。データ提供の詳細はARIMのページをご覧下さい。
学外の方
ARIM微細構造解析プラットフォームのホームページをご覧頂き、「利用申請」からお手続きください。
規程等
- 超高圧電子顕微鏡センターの装置利用に関する規程 (pdf)
- 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター運営委員会規程 (大阪大学ホームページ)
- 大阪大学超高圧電子顕微鏡センター規程 (大阪大学ホームページ)